可以根据不同的需要选择不同的涂层测厚仪。常见的涂层测厚仪分为以下几种：
一、接触式膜厚仪
目前大多数传统测厚仪属于接触式或者破坏式有损测量，并且且测试速度慢和测量繁琐，多适合于抽样检测。只有等待涂层干燥后才能测量涂层厚度，测量时探头需要挤压涂层表面，所以容易造成读数产生偏差。
例如，千分尺的精度是±1微米，如果涂层厚度为12微米，测量偏差则是±8%，加上人为误差影响，大大超出了生产厂家的允许偏差范围。可见，接触式千分尺不能作为有效可靠的测厚方法。
其他接触式测厚仪还有：测量金属底材涂层厚度――采用接触式电磁感应或涡流法膜厚仪；测量非金属底材涂层厚度――采用DIN EN ISO 2808标准提及到的楔形切割法；DIN 50950标准提及到的横切法或是在特定情况下使用ISO 2808标准的接触式超声波测量设备。
但随着人们对产品质量和外观要求越来越严格，上述测量方法显然已经不能满足生产厂家的实际需求，并存在不少局限性，故不适合应用在铝型材生产。具体缺点如下：
1. 需等待膜层干燥而使工序滞后，无法在喷涂/涂布后马上得知干膜厚度；
2. 受底材的种类限制，很多材料不适用；
3. 测试方法对材料有损伤，测试成本高；
4. 无法测试曲面、弯角、小零件等复杂形状；
5. 不能在生产线上直接实时测试；
6. 不能及时发现生产环节及喷涂设备出现隐患，如喷枪堵塞、文丘里管磨损等；
二、非接触无损涂层厚度的测试方法
1） 瑞士ATO涂魔师非接触无损光热法
涂魔师非接触式膜厚分析仪利用涂层与底材之间的热性能差异来实现非接触无损测量涂层厚度，首先用计算机控制闪光灯对未固化的漆膜进行短暂脉冲加热。高速红外传感器记录下涂层表面随时间变化的温度，表面温度根据涂层厚度和热性能以特征动态进行衰减。利用专门开发的算法评估表面的动态温度分布情况，最后可以定量确定涂层厚度。
测量原理图解见下图，安全、简单、快速且精确测量多层涂料厚度，实现在喷涂工艺中进行非接触式无损测量。
2） β辐射的反向散射
基于β辐射反向散射法（DIN EN ISO 3543），使用同位素源产生的高能电子照射待测涂层。由于多次散射过程（后向散射），一些入射的电子在入射侧离开该涂层。反向散射率，即放置在后半空间中的辐射检测器的脉冲率，可用作涂层厚度的度量参数。
3） X射线荧光法
在X射线荧光法（标准DIN EN ISO 3497）中，通过X射线照射来激发涂层以发射荧光辐射。在该方法中，光子的数量用作涂层厚度的度量参数。它主要用于测试电子，半导体和珠宝行业的金属涂层。
4） 光干涉
其余使用光学干涉原理（椭圆光度法和反射计）。用白光或红外光横向（椭圆光度法）或垂直（反射光度法）照射待测涂层。根据折射率，部分入射辐射再次被反射。 从表面和边界表面反射的光由于不同的传播时间而导致干涉图案，这可用作评估涂层厚度。 光学干涉方法只能用于光学透明涂层，主要用于研究纳米范围内的薄层。
比较上述几种非接触式无损测量方法，除了ATO涂魔师非接触膜厚分析仪，其他的无损测量方法都需要激发辐射来进行测厚，对人体存在潜在危险性和伤害性，测量时需要工作人员实行相应的保护措施，如在隔离室中采用X射线荧光法。因此，ATO涂魔师非接触膜厚分析仪对人体无危害性的特点应作为优先选择测量方案。